

2026年5月25日,华为在ISCAS会议上提出了一个引起半导体行业激烈探讨的新概念——“韬定律”。在摩尔定律逐渐触及物理天花板的当下,这究竟是概念炒作,还是真能为后摩尔时代提供一种新的技术范式?要回答这个问题,我们首先需要理解,它与统治了半导体行业近六十年的摩尔定律,究竟有何不同。


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什么是“韬定律”?
——同一个终点,两条不同的赛道


摩尔定律和“韬定律”,可以类比为两套截然不同的城市交通优化方案,服务于“提升城市运行效率”这同一个终极目标。
摩尔定律
想象一下,你管理着一座日益拥堵的城市,目标是让市民(数据)能更快地到达目的地。摩尔定律的方案是“把车造得更小”。它花了半个多世纪,不断缩小每一辆汽车(晶体管)的尺寸。这样,同样宽的马路上就能塞下更多的车,城市(芯片)的整体运力就提升了。
这就是“几何缩微”,其核心指标是晶体管的物理尺寸,目标是每隔约两年,让芯片上的晶体管数量翻一番。
这套方案辉煌了六十年,但逐渐面临困境:车已经小到接近物理极限,再小下去,技术上极为困难,成本也呈指数级攀升。
韬定律
这时,“韬定律”拿出了另一套方案:“别再把车变小了,我们重新规划道路、建设立体交通。” 它不再执着于缩小汽车本身,而是通过3D堆叠(建设多层立交桥)来缩短物理距离,通过更先进的互连和系统架构(修建更通畅的高速公路)来让车跑得更快,从而让整个城市系统的效率发生质变。
这就是“时间缩微”,其核心指标不再是单个晶体管的尺寸,而是衡量信号在整个系统中穿梭快慢的系统时间常数τ(tau)。
所以,“韬定律”并非否定摩尔定律提升性能的目标,而是在“几何缩微”这条赛道越跑越吃力时,尝试开辟一条从“追更小”到“跑更快”、从追求“局部最优”到“系统全局最优”的新赛道。它的价值在于,在后摩尔时代的十字路口,为行业指出了一种范式转移的可能性。

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“韬定律”可能如何重塑产业链?
——一场系统级思维的引入


如果“韬定律”所代表的技术范式被广泛采纳,它可能会推动半导体产业链的价值版图发生调整。一个有助于理解的比喻是“木桶理论”。

在摩尔定律主导的时代,整个产业倾向于将最多资源投入到不断加长那块名叫“晶体管微缩”的长板上。只要这块板足够长(制程足够先进),就能在单位面积内塞进更多晶体管。至于散热、全局互连延迟等其他“木板”是否形成制约,在“制程为王”的逻辑下,往往被视为次要矛盾。
而在新的技术范式下,产业的关注点可能会系统性地转向一个叫“系统性能”的木桶,它的容量由系统时间常数τ来定义。这只新的“木桶”一旦确立,那些曾经被长板光芒掩盖的短板,就可能成为制约系统性能的瓶颈,引导更多的资源投入到这些短板上。
用表格可以更直观地看到这种战略优先级的潜在变化:

“韬定律”前后的产业链战略优先级变化
这场潜在洗牌的本质,是创新主战场的扩散——从单一维度的前道制程微缩,扩展到先进封装、系统架构、软硬件协同等更广阔的“系统集成”领域。

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材料领域的变革
优先级转移与配方瓶颈


产业链的变革,最终会传导到最上游的材料端。从材料的角度看,“韬定律”所代表的新范式,可能引发一场资源优先级从“前道微缩”向“后道集成”转移的深刻调整。
下表清晰展示了关键材料在这一框架下的地位变迁:

关键半导体材料:在“韬定律”框架下的优先级变化
更具体地看几个案例。在互连领域,金属钼(Mo) 正在加速替代传统的钨(W)。三星已通过使用钼,使3D NAND字线接触电阻降低40%,读取时间缩短30%以上。据市场研究机构Yole预测,全球热界面材料市场预计到2029年将接近170亿美元,其中面向3D封装的高端散热方案增速明显高于行业平均水平,烧结银、金刚石复合材料等方案正逐步从实验室走向产线。
然而,机遇之下是更为具体的挑战。在新的竞争维度上,真正的瓶颈往往不在“用什么材料”的方向选择,而在于“如何做出这种材料”的配方与成分设计。谁先突破这些配方瓶颈,谁就可能在新赛道上占据先发优势。
超低介电常数材料的“性能平衡挑战”
要降低材料的介电常数(k值),通常需要在材料中引入纳米级孔隙。但孔隙越多,材料的机械强度就越差,在后续工艺中容易损坏,也难以抵挡化学药剂的侵蚀。因此,如何在k值<2.5甚至逼近1.0的同时,仍保持足以支撑3D堆叠工艺的高机械模量和强抗化性,是配方设计的核心难题。突破点可能在于二维聚合物或共价有机框架(COF) 等前沿材料的实用化配方。
高导热界面材料(TIM)的“综合性能平衡”
理想的热界面材料需要同时具备高导热系数(快速传热)、低界面热阻(与芯片和散热器完美贴合)和长期高温下的可靠性(不老化、不泵出)。
这三者在技术上往往难以兼顾。例如,液态金属导热率极高,但存在导电和泄漏风险;高性能导热垫片可靠性好,但界面热阻偏高。谁能率先开发出平衡三者的复合填料配方(如特定尺寸和表面处理的金刚石/银杂化颗粒)及配套的树脂体系,谁就有望在下一代高端散热市场获得竞争优势。
先进封装互连的“精度控制挑战”
在3D堆叠的超高密度互连中,电镀液中的添加剂配方(光亮剂、抑制剂、整平剂)直接决定了数十万个微孔能否被完美填充。任何微小的缺陷都会导致电阻升高或断路。这是一场在分子和原子尺度上的竞争,配方的微量级差异就会显著影响良品率。同时,为配合钼等新互连金属,与之匹配的原子层沉积(ALD)前驱体材料和选择性蚀刻液配方,也成为必须攻克的技术高地。
结语:
需要指出的是,摩尔定律是历经近六十年检验的产业规律,而“韬定律”作为一个新提出的技术框架和发展路线图,其影响力尚未显现,也未经过足够时间的检验。它能否像摩尔定律那样成为行业的共同语言,还是最终成为一种过渡性方案,仍有待观察。
但也不可否认,“韬定律”为处在十字路口的半导体行业指出了另一条值得探索的技术路径。它所代表的从“单一尺寸微缩”向“系统性能协同优化”的思维转变,正在引发产业链各环节的重新思考。正如行业历史上多次出现的那样,重大的变革与飞跃,往往孕育于这种充满不确定性的探索之中。对于身处其中的每一个参与者——无论是芯片设计商、制造商,还是最上游的材料供应商——这既是挑战,也是重新审视自身定位、布局新赛道的机会。

在这场向“系统性能协同优化”的范式转移中,材料的配方突破往往是技术落地的“最后一公里”。无论是超低介电材料的孔隙率控制,还是热界面材料的填料复配,都需要在微观尺度上对成分与工艺进行反复迭代。这正是博诺通技术深耕多年的领域——专注于高分子材料与有机化学的成分分析、配方还原和产品开发,为化工企业攻克技术瓶颈提供精准的检测支撑与研发助力。
