11月11日至13日，中国国际日化产品原料及设备包装展览会（CIMP）将在武汉举办。博诺通将出席参展，聚焦精细化工领域，围绕日化原料成分分析与纯度确认等检测服务，与行业企业开展现场交流。
图1|关于CIMP
11月11日至13日，中国国际日化产品原料及设备包装展览会（CIMP）将在武汉举办。作为日化行业的年度盛会，本届展会由中国洗涤用品工业协会主办，预计将汇聚500余家参展企业。展会不仅设立了原料、包装、OEM/ODM及智能制造等主题展区，还将配套举办20余场专业技术论坛，吸引众多配方师、产品注册人员及企业高管等专业观众到场，为上下游产业链提供高质量的交流平台。
展会期间，博诺通将设展出席，重点展示其在精细化工领域的成分分析解决方案。日化配方体系极其复杂，乳化剂、表面活性剂、成膜剂等核心原料的化学结构与纯度，直接决定了终端产品的性能与安全。面对复杂的原料基质，单一的分析手段往往难以奏效。博诺通将依托沉淀16年的化工材料分析经验，在现场向行业展示多维度交叉验证的技术路径。
在核心成分与结构解析方面，博诺通不仅依靠红外光谱（FTIR）进行快速“指纹”比对，更通过核磁共振（NMR）精准确证未知原料的化学结构骨架；针对复杂的复配体系，利用液相色谱质谱联用（LC-MS）、气相色谱质谱（GC-MS）对微量及挥发性有机组分进行深度分离定性；对于成膜剂或高分子表活，则借助凝胶渗透色谱（GPC）分析其分子量及其分布。同时，针对原料中的无机成分与元素层级，配备X射线荧光光谱仪（XRF）与元素分析仪（EA）进行快速定性定量，结合电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）实现元素组成的精准解析。这种多手段联用的解析方式，将帮助企业在原料替代、竞品剖析及新品研发中摸清配方底牌，有效缩短前期摸索的试错周期。
图2|博诺通多仪器联用分析矩阵
图注：博诺通配备300余台（套）分析检测设备，为日化企业成分分析提供坚实支撑。
在原料纯度把控与微量杂质溯源环节，微量副产物、未反应单体或残留溶剂往往会引发终端产品变色、变质等风险。针对这一质控痛点，博诺通的技术团队可通过气相色谱（GC）及气质联用（GC-MS）技术精准筛查残留溶剂；结合离子色谱（IC）检测无机阴离子残留。同时，结合热分析（TGA/DSC）评估原料的热稳定性，这种从主成分定性到微量杂质溯源的全链条服务，能有效帮助企业从源头把控原料质量，规避因成分波动带来的生产隐患。
展会期间，博诺通将在展位设置专门的咨询与交流区。面对前来交流的配方师与企业研发人员，现场咨询顾问将针对观众带来的原料样品、应用场景及分析需求进行初步的需求梳理，并提供后续实验室分析检测服务的预约登记。
借助CIMP这一专业的行业交流平台，博诺通将进一步了解精细化工企业在原料研发和质控方面的实际诉求。未来，博诺通将继续发挥多谱图联用与深度解析的技术优势，以客观、准确的数据辅助企业优化配方体系、提升产品品质，为日化企业的研发与质控提供坚实的技术支撑。
